電界放出形透過電子顕微鏡
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※「セルフオペレート」と記載のない機器は、研究員が操作させていただきます。
| 機種名 | 電界放出形透過電子顕微鏡 |
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| 形式 | JEM-2100F |
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| 仕様 |
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| 機器説明 | 電子線を試料に照射、透過させ、その透過電子、散乱電子等を検知することで、数十μｍサイズ（数十倍）からサブｎｍ（百数十万倍以上）の透過電子顕微鏡像観察、回折図形観察が可能な装置である。また、高感度の走査透過像観察装置ならびに液体窒素レスエネルギー分散型Ｘ線分光装置（EDS）を有し、観察領域の元素分析や状態解析が可能である。 |
| 使用料・手数料 | 要相談 |
| 配置場所 | 101ナノ構造観察室 |
| 機器の状況 | 要相談 |
| 測定事例 | 測定例など詳細はこちら |
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