微小部薄膜評価用X線回折装置
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機種名 | 微小部薄膜評価用X線回折装置 |
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形式 | SmartLab |
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仕様 |
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機器説明 | X線の回折現象を利用して結晶構造解析を行う装置です。★本装置では,集中法光学系によるバルクや粉末試料の測定に加えて、多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系により、偏心誤差(試料の高さ)の影響を受けない、対称性が高い回折プロファイルを得ることができます。 |
使用料・手数料 | 相談時に確認 |
配置場所 | 202 X線機器分析室 |
機器の状況 | 利用については要相談 |
測定事例 | 測定例など詳細はこちら |
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