レーザーアブレーション/ICP発光分析法による鉛フリーはんだ分析

技術ノート
金属

担当者	金属系チーム南　秀明、山梨　眞生、塩見　昌平、丸岡　智樹、門野　純一郎研究室副室長菊内　康正
概要	固体試料直接分析法（レーザーアブレーションにより発生した微粒子をICP発光分析装置に直接導入する分析法）による鉛フリーはんだ分析について検討した。その結果，レーザーアブレーション条件（照射径150μm，走査速度：50μm/s，レーザー出力：50%[2.3mJ]，パルス周期：20Hz，アブレーションパターン：矩形ライン）において，分析面積：1mm2で主成分であるSn，Cuに加えて，0.01％程度の微量Pb，Sb，Biも相対標準偏差３％以下の良好な結果が得られた。
研究期間	平成28年4月～平成29年3月

担当者

金属系チーム: 南　秀明、山梨　眞生、塩見　昌平、丸岡　智樹、門野　純一郎

研究室副室長: 菊内　康正

概要

固体試料直接分析法（レーザーアブレーションにより発生した微粒子をICP発光分析装置に直接導入する分析法）による鉛フリーはんだ分析について検討した。その結果，レーザーアブレーション条件（照射径150μm，走査速度：50μm/s，レーザー出力：50%[2.3mJ]，パルス周期：20Hz，アブレーションパターン：矩形ライン）において，分析面積：1mm2で主成分であるSn，Cuに加えて，0.01％程度の微量Pb，Sb，Biも相対標準偏差３％以下の良好な結果が得られた。

研究期間

平成28年4月～平成29年3月