微小部蛍光X線膜厚測定<評価技術講習会4>
![](https://tc-kyoto.or.jp/app/uploads/2024/07/Hyoka_headerR06-04-1024x301.png)
令和6年度 評価技術講習会
第4回 -見て学ぶ材料分析の基礎-
材料組成分析(微小部蛍光X線膜厚測定)
(地独)京都市産業技術研究所では、地域の特色をいかした産学官連携拠点である京都バイオ計測センターと連携して、地域企業の技術者や大学研究者等が材料分析の基礎を学べる講習会を下記のとおり開催いたします。材料分析は、製品開発、品質管理、不具合改善など、ものづくりの様々な場面の課題解決に活用される評価技術です。本講習会では、「測定データの見方」など基礎的な事例紹介と共に、先進機器などによるデモ測定を行いながら分かりやすく解説します。
第4回は、材料組成分析シリーズの「微小部蛍光X線膜厚測定」です。
本講習会の受講を機に、弊所が保有する機器と技術を積極的にご活用いただくよう、お願いいたします。皆様のご参加をお待ちしております。
日時 令和6年9月25日(水) 14:00 ~ 16:00
【講義】14:00 ~ 14:45 【実習】15:00 ~ 16:00
※講義のみハイブリッド形式(Zoom)
会場 (地独)京都市産業技術研究所
(〒600-8815 京都市下京区中堂寺粟田町91 京都リサーチパーク9号館南棟)
産技研 アクセスページ https://tc-kyoto.or.jp/aboutus/#access
【講義】5階 講義室B 及び Web形式(Zoom)
【実習】6階 表面物性測定室
内容 【講義】微小部蛍光X線膜厚測定の基礎
【実習】微小部蛍光X線膜厚測定の試料準備、デモ測定、測定データの解析など
講師:(地独)京都市産業技術研究所
材料・素材技術グループ 大藏 要
加工・製造技術グループ 山本 貴代
対象 ・企業技術者、大学の研究者など機器を用いた材料分析法を基礎から学びたい方
・分析は外部委託しているが、測定原理から学びたい方
・測定経験はあるが、試料前処理及び測定などを再確認したい方 など
定員 ・対面形式(講義及び実習):5名
・Web形式(講義のみ) :50名程度
※対面形式は1社1名、応募多数の場合は抽選
参加費 無料
募集期間 令和6年8月19日(月)~令和6年9月6日(金)
申込方法 (地独)京都市産業技術研究所の参加申込フォームからお申し込みください。
※令和6年9月12日(木)までに、登録メールアドレス宛に
抽選結果等をお知らせします。
主催 (地独)京都市産業技術研究所
問合せ先 (地独)京都市産業技術研究所
担当:製品化・人材育成支援グループ 南、島村、 経営企画室 岡野
産技研:評価技術講習会ページ
TEL:075-326-6100(代)、E-mail:kikiseminar(ato)tc-kyoto.or.jp
※メールをお送りいただく際は、(ato)を@に変えてください。
<微小部蛍光X線膜厚計>
蛍光X線膜厚計は、X線を照射した際に試料から発生する蛍光X線を検出することで、試料表面の元素の種類や量(組成)を分析するとともに、試料表層に形成されたマイクロオーダーの金属膜の厚さが測定できる装置です。特に、X線の照射範囲を最小200 μm角まで絞れるため、微小部に対応した測定が可能です。自動車部品やバイオセンサ、文化財等、幅広い分野の材料分析において利用されています。
![日立ハイテクサイエンス製EA6000VX](https://tc-kyoto.or.jp/app/uploads/2023/08/h27_P09_keikoX_L.jpg)
EA6000VX
開催にあたっての注意事項
- インターネット環境、動画視聴環境、パソコン等の設定方法につきましては、システム、OSごとに異なりますので、事前にご確認をお願いします。
- 申し込みされた方に、連絡事項、視聴用の招待URL等をメールにてご連絡いたします。講演会開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。なお、迷惑メール対策やドメイン指定受信等を設定している方は、連絡事項、招待メール等が受信されますよう、tc-kyoto.or.jp の登録をお願いいたします。
- 申し込みされた方の確認のため、Zoom接続時には必ず申込み時の接続時の名前をご使用ください。また、本セミナーは、ウェビナー機能を利用しませんので、接続時の名前がZoom上に表示されます。あらかじめご了承ください。
- 本講演会で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止します。
- 会場へのアクセスは、産技研アクセスページをご参照ください。