蛍光X線分析に利用可能な少量試料測定用両面テープの含有成分による分類
- 研究抄録
- 金属
- 陶磁器・ファインセラミックス
| 担当者 |
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| 概要 |
小片試料などを蛍光X線分析で測定する際，試料固定に利用可能な両面テープについて調査した。その結果，両面テープからNa，Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Fe，Ti，Ag，Srが検出され，(1)Si，S，Ca系，(2)Na，Si，P，S，K系，(3)Si，P，S系，(4)Al，Ca系の4系統に分類・・・・（以下pdf参照） |
| 研究期間 |
平成29年4月～平成30年3月 |
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キーワード
- 蛍光X線分析法
