令和５年度（公財）JKA機械設備拡充補助事業（競輪補助事業）にて
波長分散型蛍光X線分析装置を導入しました。

【装置概要】

　波長分散型蛍光X線分析装置(WD-XRF：Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence spectrometer)は試料表面にX線を照射し、発生した蛍光X線スペクトルを分光結晶により分光し、得られた蛍光X線スペクトルの波長及びスペクトルの強度から元素選別を行いながら試料中の含有元素を定性分析および定量分析ができる分析装置です。
　本機器は、機械金属、自動車、電子部品、建築、塗料、プラスチック、ゴム、繊維、セラミックス、陶磁器、文化財修復など、多種多様な業界分野において、新材料・新製品の研究開発や製品の品質向上・製品加工プロセスなどの改善に向けた活用ができます。

波長分散型蛍光X線分析装置(上面照射型ZSX Primus Ⅳ)

＊装置について、詳しくは以下担当までお問い合わせください。
担当：加工・製造技術グループ