試料調整（試験・分析前処理）

LA－ICP発光分析装置用脱溶媒システム	レーザーアブレーション装置との組み合わせにより内標準用サンプル導入として利用できます。
凍結乾燥機	凍結したサンプルを真空状態にすることによって水分を昇華させて乾燥させることができ，熱を嫌うサンプルの乾燥に用いることができます。
集束イオンビーム加工観察装置	ガリウムイオンの照射により，試料表層の微細加工・断面加工及び観察ができる装置です。像を観察しながら微小特定領域を加工できることから，試料内部の層構造，接合界面，膜厚などの観察，走査型電子顕微鏡などによる断面観察を行うための試料作製などが可能である。
超低温フリーザー	分析試料の微粉砕を行う装置です。
試料自動研磨装置	金属顕微鏡による金属材料の組織観察，めっき皮膜の組織観察・厚さ測定を行う装置です。
高速湿式試料切断機	試料を分析可能な形状に切り出す装置です。
マイクロ波加熱分解装置システム	固体試料をテフロン製密閉容器で分解し，水溶液化する分析前処理装置です。
密閉高温高圧水熱反応処理装置	高温高圧水を用いた分析前処理装置です。
スパークアブレーション固体サンプリング装置	試料をスパーク放電によりエアロゾル化し，アルゴン気流によりCID高周波プラズマ発光分析装置へ直接導入する分析前処理装置です。

ご利用案内