地方独立行政法人 京都市産業技術研究所
  • アクセス
  • お問い合わせ
  • 075-326-6100
文字サイズ
標準or大きく

設備利用

電子顕微鏡

電界放出形透過電子顕微鏡 電子線を試料に照射,透過させ,その透過電子,散乱電子等を検知することで,数十μmサイズ(数十倍)からサブnm(百数十万倍以上)の透過電子顕微鏡像観察,回折図形観察が可能な装置
薄膜ストレス測定装置 機器名 薄膜ストレス測定装置 商品名 薄膜ストレス測定装置 写真 ---> 型...
電界放射型走査電子顕微鏡 冷陰極電界放射型電子銃から発生した電子線を試料に照射し,試料の表面形態を超高分解能で観察します。
無蒸着走査電子顕微鏡 各種試料の表面形態を高分解能で観察する装置です。元素分析・マッピングも行えます。
電子線マイクロアナライザ 金属など各種材料表面の微小領域から広領域までの像観察,元素分析及び元素マッピングを行います。素材開発,加工工程の改善,破面解析などに活用できます。